英国牛津仪器台式XRF射线荧光分析仪X-Strata920

台式XRF射线荧光分析仪X-Strata920

产品技术参数：

三种配置选项

概述：

深圳市方源仪器有限公司—英国牛津仪器指定中国总代理商!射线荧光分析仪X-Strata920 是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。

X-Strata镀层测厚仪是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。

X-Strata920 在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。

X-Strata920 为这些行业提供了：

以更有效的过程控制来提高生产力

有助电镀过程中的生产成本最小化、产量最大化

快速无损地分析珠宝及其他合金

快速分析多达4层镀层

操作简单，只需要简单的培训

无损分析：无需样品制备

经行业认证的技术和可靠性，确保每年都带来收益

分析只需三步骤

杰出的分析准确性和精确性

在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验

镀层测厚仪X-Strata系列使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量，保证质量的同时降低成本。

卓越的性能：

快速、精确的分析：大面积正比计数探测器和牛津仪器50瓦微聚焦X射线光管（X射线光束强度大、斑点小，样品激发佳）相结合，提供最佳灵敏度

简单的元素区分：通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱

性能优化，可分析的元素范围大：X-Strata920 预置800多种容易选择的应用参数/方法

卓越的长期稳定性：

自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正，确保稳定的测试结果

例行进行简单快 速的波谱校 准，可自 动检查仪器性能（例如灵敏性）并进行必要的修正

坚固耐用的设计

可在实验室或生产线上操作

坚固的工业设计

运用领域行业：

电子行业

电子、电气原件
有效控制生产过程，提高生产力

确保元件可靠性

同时测量焊料合金成份和镀层厚度

优化质量控制，确保产品生命期
例如：

分析导电性镀层金和钯的厚度

测量电脑硬盘上的NiP层厚度

五金电镀行业

电镀处理的成本最小化，产量最大化

快速简单的分析

同时进行单层或多层镀层厚度测量及成份分析

最多可分析4层镀层

镀液成份分析

金属合金行业

金属合金成份分析和牌号认定
珠宝及其他合金的快速无损分析

贵金属合金分析

黄金纯度分析

材料鉴定

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